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Chroma真无线蓝芽⽿机测试解决⽅案满⾜⾼阶与基础测试需求

2020-02-20 14:00 消息来源:Chroma致茂电子

桃园2020年2月20日 /美通社/ -- Chroma ATE Inc. 致茂电子推出真无线蓝芽耳机(True Wireless Stereo,以下简称 TWS)芯片完整测试方案,整合无线 RF、MCU 测试、数字电路、模拟电路,以及音频混合讯号量测。超高性价比的 Chroma 3380测试系统满足价格敏感的芯片设计商,进阶版 Chroma 3680测试系统,能提供快速且完整的测试方案,满足高阶高感度的 TWS 芯片测试需求。

 

TWS 芯片在近年来应用越来越广泛,从刚开始仅限于安装在耳机内,处理蓝芽与音频讯号的单纯芯片,TWS 使用的芯片已经发展到智能音箱、无线音箱,甚至穿戴装置都可以共享。也因为功能的急速整合,测试从单纯的无线蓝芽测试、数字测试与音频测试,延伸到电源、内存、甚至传感器等。

Chroma 半导体测试解决方案在各种半导体测试应用耕耘多年,高度软件与硬件整合已获业界肯定,可同时提供价格合理、质量精良的数字与模拟测试,Chroma 3380在中国 MCU 市场更是位居领先地位,除了可以测试 Bluetooth RF 外,在音频测试表现上可提供超过90dB 的信噪比,一站完成所有的测试需求。而针对高阶高感度的产品,Chroma 3680系列可以进行高速讯号测试,提供精准的电压电流测试,其混合讯号测试更提供超过 110dB 的信噪比,加上快速 RF 讯号连接接口,可更稳定测试高阶 TWS 产品。

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本文关键词:致茂電子, 真无线蓝芽耳机, 蓝芽耳机, TWS 芯片, ⽿